技術情報 (誤動作試験)

誤動作試験
HIT-5000 LSI Immunity Tester

ＴＬＰ(Transmission Line Pulse) を使用したデバイス用イミュニティ試験器です。
ＥＳＤガンを使用したIEC64000-4-2準拠の装置用イミュニティ試験器は一般的ですが、 ＬＳＩに到達した際には振動波形になってしまい、その結果振動により正方向に振れた際に 誤動作したのか、負方向に振れた際に誤動作したのかを区別できないという課題があります。
本試験器ではＬＳＩのピンに直接矩形波を低インピーダンスで印加することで、正方向または負方向での誤動作について区別できます。
オプションの同期ユニットを使用することで、誤動作事象を再現良く発生させることが出来ます。
例えばＣＰＵの場合、ＲＯＭ／ＲＡＭ／ＩＯアクセス時などのタイミングに合わせてインパルスノイズを印加することで、それぞれのタイミングにおけるイミュニティ試験が可能となります。
また、矩形波はシミュレーション用の信号源としてモデル化しやすく、解析用のツールとしても期待されています。

使用方法は次図のように、電源又はＧＮＤラインにコネクタを挿入して印加プローブを接続して、印加電圧と印加回数を設定して行います。 図に於いてフィルタは外付けとなり、フィルタより手前側は装置内となります。本装置にはＬＳＩが誤動作したことの検出機能は有りませんので、 被試験デバイス側にモニター用のＬＥＤを付けるなどして誤動作を検出するための工夫が必要となります。
同期ユニットを使用する場合は、ＬＳＩからの同期信号を同期ユニットへ入れる必要があります。