製品情報

TLP試験器 ラインナップ

保護回路の動作特性をシミュレーションする装置です。
集積回路に組み込まれた保護回路の動作パラメータの収集と分析に大きな力を発揮します。
VFTLP試験も可能です。

製品名/型式 装置説明 カタログ 動画

HED-T5000/T5000VF
HED-T5000
HED-T5000VF

最先端の試験モードを装備しています。 印加パルス幅100ns/200nsのノーマル試験と印加幅を1nsまで小さくした VFTLP(Very Fast TLP)の試験モードを取り揃えています。
ESD耐性でのHBM/CDM試験の検証に有効です。 デバイスピンへの入射波、デバイスピンからの反射波を標準に装備された オシロスコープで確認できます。
このデータは保存され、専用モニターにも表示されます。 専用モニターで入射波/反射波の合計値、 スナップバック特性、Vf/Im測定によるリーク測定値などがトレースできます。
保存されたオシロスコープからのデータは自由度の高い演算処理を可能にします。 例えば、プロセスを変えたトランジスタのON電圧や保護回路に流せる最大電流値に対し、 トレースを重ね合わせることで差分を確認することができます。
また、セミオートプローバー等と接続して、TLP試験を自動化することができます。
Wafer上の印加ピンやチップ間の自動シフト、自動測定ができるので、試験効率が大きく向上します。


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HED-T5000-HC
HED-T5000-HC

現在、デバイスは、高集積・高周波・高耐圧のニーズが高まってきています。
本装置は、従来のTLPではカバーできなかった、高電圧・大電流の特性が測定可能となり、 高耐圧素子の動作パラメータの取得、分析に力を発揮します。

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