製品情報

CDM試験器

電位ポテンシャルの異なる物体に接触した時の破壊耐性試験装置です。

製品名/型式 装置説明 カタログ 動画

HED-C5000R

HED-C5000R

日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。 (JEITA/ESDA/JEDEC規格対応)
放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。
デバイス各端子容量の測定が可能です。測定データはテキストファイルとして保存可能です。


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HED-CB5000

HED-CB5000

半導体デバイスをアッセンブリした、プリント基板やモジュールに帯電した静電気が、アースなどに放電する現象をシミュレートする試験装置です。
充放電現象は、半導体デバイス向けのCDM試験と同等の試験を用いています。


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