Wafer ESD 测试机 产品系列
此设备是可以在Wafer level上进行HBM,MM测试的设备
| 产品名/型号 |
设备说明 |
设备介绍彩页 |
设备介绍视频 |
HED-W5100D
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全自动 Wafer ESD测试机
从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电
ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail
并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试
对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数
是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）
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HED-W5000M
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高性能半自动Wafer level ESD测试机
通过操作探针座，可以轻松地决定两个管脚之间的位置
在印加脉冲后，可以通过漏电流测试判断pass/fail。
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HED-W5000M-SP0
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Low Cost Wafer ESD Tester
低成本、高性能
可通过开放控制软件构建广泛应用程序
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HED-W5000M-WFC
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Wafer level ESD测试机
在对集成电路中保护电路工作参数的收集与分析上，虽然TLP测试机起到了很大的作用，但是在半导体制程细微化的发展中，
为了提高对ESD的抵抗性，保护电路需要更快的研发速度
HED-W5000M-WFC测试机，因其可以观测到被印加到器件上的实际的ESD波形，所以有助于收集、分析保护电路参数以及缩短研发速度
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