HED-C5000R

日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。 （JEITA/ESDA/JEDEC規格対応）
放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。
デバイス各端子容量の測定が可能です。測定データはテキストファイルとして保存可能です。

HED-CB5000

半導体デバイスをアッセンブリした、プリント基板やモジュールに帯電した静電気が、アースなどに放電する現象をシミュレートする試験装置です。
充放電現象は、半導体デバイス向けのCDM試験と同等の試験を用いています。